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TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪

 

产品介绍:    


TriStar II Plus  比表面与孔径分析仪

  • 成本颇具竞争力

  • 测量较快速准确

  • 高通量样品分析的较理想选择

  • 杜瓦瓶持续时间长,适用于较长时间的分析

  • 具有用于低表面积测量的氪气选件

  • 适用于多种分析

 

  • TriStar II Plus 提供了一套较高通量系统,具有三个同时独立运行的样品端口,一台计算机最多可以操作四台TriStar II Plus装置。

  • 使用标准氮气系统可以测量低至 0.01 m2/g 的表面积。 氪气选件可以将表面积测量范围扩展到低至 0.001 m2/g。

  • TriStar II Plus 适用于多种吸附物的分析,包括氩气、二氧化碳和其他非腐蚀性气体,如丁烷、甲烷和其他轻质烃。

  • 等温夹套可确保样品管和饱和压力(Po)管在整个长度范围内保持热曲线稳定。

  • Micromeritics MicroActive 数据压缩和控制软件使用户能够以交互式方式计算表面积和孔隙率。 用户通过图形界面选择的数据范围可直接用于 BET、t-Plot、Langmuir、DFT 解析等建模。

  • 通过将气体吸附法和压汞法的数据叠加以及先进的 NLDFT,增强的软件功能允许获得综合的孔径分布数据。

 

典型应用


增材制造、炭黑、吸附剂、催化剂、纳米管、活性炭、陶瓷油漆和涂料电池和燃料电池等研究方向

 

 

 

型号Model:TriStar II Plus
品牌Brand:Micromeritics

Micromeritics® TriStar II Plus 表面积和孔径分析仪,三站分析装置可以有效提高常规质量控制分析的速度和效率,同时具有可满足研究所需的准确性、分辨率和数据简化功能。这款仪器将多种分析方法和丰富的数据简化功能结合起来,允许用户根据应用需求定制分析。
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