VersaScan 微区扫描电化学测试系统
产品介绍：
VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上，可进行高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。每套VersaSCAN系统都具有较高分辨率；长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上，不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，定位系统为不同扫描探针试验提供不同的功能。
VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的测量
它是一个模块化配置的系统，可以实现如下微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜测试
-AC-SECM 无氧化还原介质扫描电化学显微镜
-Stylus-Probe 柔性探针技术-等距离扫描电化学显微镜
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试
Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试
Ion Selective Probe (ISP) 表面离子浓度成像系统
以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置，然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。
典型应用：
VersaSCAN SECM扫描电化学测量可应用于反应动力学，生物传感器，催化剂和腐蚀机理等研究；
VersaSCAN SVET扫描振动电极测量可应用于不均匀腐蚀，点蚀，焊接和电耦合等应用研究；
VersaSCAN LEIS微区电化学阻抗测试可应用于有机涂层，裸露的金属腐蚀等研究；
VersaSCAN SKP扫描开尔文探针测试可应用于材料，半导体，金属腐蚀等研究；
VersaSCAN SDC电解液微滴扫描测试可应用于动力学，腐蚀，流体研究和研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。
VersaSCAN OSP非触式光学微区形貌测试可用于表面形貌测量或绘制地形图与其它扫描探针技术一起应用于样品表面定距离扫描测试等。
品牌Brand：AMETEK Princeton Applied Research
VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上可进行高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。
